全部產品介紹

1. 機構規格：
 600x400x150mm行程
 Hiwin精密級線性滑軌
 鋁合金硬陽基座平台
 X/Y軸快速移動設計
 Z軸可拆式設計
2. 光學規格：NIKON SMZ745 或SZ45
 無段鏡頭 : 0.65X~5.0X 或0.67X~4.5X段連續變焦
 廣角目鏡 : 10X (6.5X~50X)或(6.7X~45X)
 觀察鏡筒 : 45˚傾斜度
 工作距離 : 115mm或100mm
 高亮度60顆LED環狀光源組

Sony 1/1.8.”SonyColor sensor
3840X2160, 8MegaPixel
2.0X2.0um
3840X2160@60FPS

一，XE-08 機台 商品說明:
1. 機械平台: FOR 8吋平台，移動行程 203 *203(mm)
2. 光學系統 : 三眼式觀察頭(明視野,偏光觀察) 瞳孔距離範圍55-75mm。
3. 目鏡 : WF10/22超高眼點目鏡。
4. 物鏡 : 明視野半複消色差金相物鏡
M Plan 5XB NA 0.12 WD 26mm
M Plan 10XB NA0.25 WD 20mm
M Plan 20XB NA0.40 WD 8.5mm
M Plan 50XB NA0.0.7 WD 3.6mm
5. 鼻輪 : 明視野手動鼻輪。
6. 調焦裝置 同軸粗細微調,精度0.002mm (附限位裝置)。
7. 表面光,底部光LED 。

AIXON CX43M金相顯微鏡
產品介紹
Product introduction
CX43M產品介紹
全新 CX43M 研究級金相顯微鏡集成了明場，偏光，DIC微分干涉等多種觀察功能，從外觀到性能都緊跟國際領先設計風向，致力於拓展工業領域全新格局。
RX43系列研究級明暗場金相顯微鏡採用了模組化設計，為廣泛的材料學和工業應用提供了多樣化的解決方案。
RX43M研究級明暗場金相顯微鏡的設計中融入了便於理解操作的功能設計

規格:
1. 光學系統 無限遠色差校正光學系統
2. 觀察筒 倒像，無限遠鉸鏈三目觀察筒，瞳距調節範圍:50mm～76mm；
3. 目鏡 高眼點大視野平場目鏡SWH10X23mm（視度可調）
物鏡 專業無限遠半複消色差明暗場金相物鏡5x、10x、20x、50x、(選配100x） 5X物鏡NA0.15,WD14.35mm 10X物鏡NA0.30,WD8.5mm 20X物鏡NA0.45,WD3mm 50X物鏡NA0.75,WD3.0mm 100X物鏡NA0.90,WD1 / 長工100X物鏡NA0.80,WD3.0(選配)
4. 物鏡轉換器 5孔明暗場手動物鏡轉換器（帶DIC插槽）
5. 機架 透反兩用機架，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程27mm，微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。帶平臺位置上下調節機構，最大樣品高度40mm
6. 載物台 3X2雙層機械移動平臺，低手位X、Y方向同軸調節；平臺面積210X175mm，工作臺面：135X125mm，玻璃檯面：101X101mm，移動範圍：75mmX52mm可配反射用金屬載物台板，透反兩用玻璃載物台板
右手位4英寸機械平臺，移動行程：105mmX102mm機械平臺，X、Y方向同軸調節；可帶透射系統擋光板，帶玻璃載物台板(選配)
7. 上照明系統 自我調整寬電壓，反射燈室，單顆大功率10WLED，暖色，柯拉照明，帶視場光闌與孔徑光闌，中心可調。
8. 下照明系統 自我調整寬電壓，透射燈室，單顆大功率10WLED，暖色
9. 聚光鏡 透射用消色差聚光鏡(N.A0.9)，帶可變孔徑光闌，中心可調 其他選購附件 攝影攝像附件：、0.5X C介面，可調焦；(1X、0.65X選配) 4K高清成像系統、USB3.0電腦版成像系統相機 高精度測微尺，格值0.01mm 軟體（專業測量系統、金相分析系統、

NIKON LV-150,NIKON LV150NL,LV150NA 金相顯微鏡
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。


運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象

NIKON LV100ND NIKON LV100DAU金相顯微鏡
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。


運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象

NIKON SMZ74顯微镜具有7.5倍的變焦和115毫米的長工作距離，非常適合工業和生物醫學應用。採用新的全反射棱镜可生成更明亮、更高對比度的圖像，防霉設計使顯微镜能在温度和濕度很高的環境中使用。SMZ-745T三眼型號配有顯微镜相機接口内置0.55x C-mount，可直C-mount CCD。

金相清潔度自動檢測系統,WAFER 清潔度自動檢查儀
自動檢查wafer 髒污，瑕疵。

OLYMPUS BX51
OLYMPUS BX51 標準機台
目鏡: 雙眼*2
物鏡: 5X，10X，20X，50X 100X(選購)
CCD: 600萬，800萬，1200萬像素(選購)
量測軟體: 軟 體 功 能
包括了拍照、錄影、曝光、增益、白平衡（自動，手動，ROI）、顏色調整,銳度與3D降噪控制
:幾何量測 :點，任意線長，平行線距，重直線距，圓，弧，矩形橢圓，圓環，雙圓 ，多邊形，角度….等量測。
圖像比對，圖像拚接，3D圖像融合(EDF景深融合)。
量測數據與圖片可匯出WORD EXCEL製作報表。
光源: 表面光 ，底部光

產品說明
物鏡種類 ( U-Type 金相物鏡模組 / T-Type 單鏡頭模組 )
MM-400 是創新設計的量測型顯微鏡，專為工業測量和圖像分析而設計。於載物台 X、Y 軸安裝精密光學尺，藉由載物台位移，光學尺與讀取頭即可讀取出相對位移的距離，提供跨視野量測的限制，在科技產業不斷日新月異，更高階、更微小化的線路或精密製程中更是不
可或缺的量測設備，MM-400 更提供了量測 Z 軸需求的相對機型，以滿足各行業不同需求的各項量測數據。

U-Type ( NIKON 金相物鏡模組)
新款測量顯微鏡可以搭配一個 TTL 雷射 AF 以或另一新型輔助對焦結構 ，以提供更清晰和更精確的對焦模式，使 Z 軸更簡便提升高精度量測，搭配 NIKON 金相光學模組的放大倍率，更可以利用高倍率觀察，實現明暗視野、偏光、微分干涉的多種觀察方式組合。並利用高倍率物鏡景深短的特性，可計算出部件高低差異的量測數值。

載台為:8×6 B Stage ( 200 x 150 mm ) 量測行程。
亦可搭配台製載物

商品說明:
光學系統 : 無限遠色差校正光學系統
目鏡 : 超高解析視野平場目鏡10X/25mm，視度可調
物鏡 : 明暗視野半複消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X
鼻輪 : 明暗視野5孔電動
基座：
100x100mm, 150x100mm, 200x150mm, 355x300mm。
粗調行程25mm, 微調精度0.001mm。
防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。
內置100-240V寬電壓系統，採用數字調光，具有光強設定與復位功能。

DS432DCC3in1 QS瞬間檢測+2.5D全自動+3D雷射三合一量測系統
一，機台規格說明:
• 攝影機：
* QS : 2000萬RGB高解析乙太網路工業攝影機 * 2.5D : 500萬RGB高解析乙太網路工業攝影機*3D雷射掃描KEYENCE
• 光學鏡頭：
* QS : 遠心視野光學鏡頭 : 3x * 2.5D : 全自動連續變倍同軸鏡頭：18-255x
* 3D雷射掃描KEYENCE
• 精度：
* QS : ±4 um * 2.5D : 3.0+L/200 um *3D雷射掃描KEYENCE(以KEYENCE 規格)
• 行程：400x300x200mm
• 光學尺： 英國RENISHAW 0.0001mm
• 全自動輪廓光源：高亮度遠心平行光源
• 全自動表面光源：高亮度可程式控制光源
• 硬體特殊性：* 00級花崗岩移動平台 (非一般鋁合金基座)
* 00級花崗岩基座 (非一般鑄鐵基座)
二，軟體功能說明
QS 3in1AOI幾何視覺量測軟體
• 中英文界面並支援繁＼簡体
• 可量測點．線．圓．弧．角度．距離．橢圓．矩型．連續曲線．傾斜補正．
平面補正及原點設定
• 量測結果並可顯示公差值．真圓度．真直度．位置度．垂直度．平行度
• 座標顯示、呼出、列印、影像處理、要素測組合功能、座標處理、系統處理、•• 繪圖處理、輔助說明
• 程式編輯，大量及重複量測
• 螢幕上任意點自動對焦功能
• 支援AutoCAD＼Excellon＼Gebber
• 即時量測數據報表輸出
 使用者自行定義輸出數據項目
 客製化報表輸出、Word、Excel格式
三，應用行業:
半導體,Touch panel,ITO,導電粒子,藍寶石基板,LED,LED封裝,TFT-LCD,FPC,網版
IC,精密零組件,金相組織,電池模組業,