金相顯微鏡,光學顯微鏡,NIKON,OLYMPUS,AIXON,TOMAS

商品說明:
光學系統 : 無限遠色差校正光學系統
目鏡 : 超高解析視野平場目鏡10X/25mm，視度可調
物鏡 : 明暗視野半複消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X
鼻輪 : 明暗視野5孔電動
基座：
100x100mm, 150x100mm, 200x150mm, 355x300mm。
粗調行程25mm, 微調精度0.001mm。
防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。
內置100-240V寬電壓系統，採用數字調光，具有光強設定與復位功能。

優勢
NX-43M 編碼型金相顯微鏡，將硬體設計與影像分析軟體整合一起，螢幕直接顯示物鏡的放大倍率，切換倍率時也能自動調整軟體中記錄的校正值，杜絕忘記切換軟體倍率所造成的測量錯誤。
NX-43M 亮度控制記憶功能，能夠記憶在使用每個物鏡時的照明亮度，當不同物鏡相互轉換時， 自動對光強進行調節，減少視覺疲勞，提高工作效率。
光學系統 : 無限遠色差校正光學系統
目鏡 : 超高解析視野平場目鏡10X/23mm，視度可調
物鏡 : 明暗視野半複消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X
鼻輪 : 明暗視野5孔電動
基座：。平台大小：240x175mm
工作台面：135x125mm
玻璃台面：101x101mm
移動範圍：75x50mm
粗調行程: 粗調行程30mm,微調精度0.001mm
防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。
內置100-240V寬電壓系統，採用數字調光，具有光強設定與復位功能。

AIXON CX43M金相顯微鏡
產品介紹
Product introduction
CX43M產品介紹
全新 CX43M 研究級金相顯微鏡集成了明場，偏光，DIC微分干涉等多種觀察功能，從外觀到性能都緊跟國際領先設計風向，致力於拓展工業領域全新格局。
RX43系列研究級明暗場金相顯微鏡採用了模組化設計，為廣泛的材料學和工業應用提供了多樣化的解決方案。
RX43M研究級明暗場金相顯微鏡的設計中融入了便於理解操作的功能設計

規格:
1. 光學系統 無限遠色差校正光學系統
2. 觀察筒 倒像，無限遠鉸鏈三目觀察筒，瞳距調節範圍:50mm～76mm；
3. 目鏡 高眼點大視野平場目鏡SWH10X23mm（視度可調）
物鏡 專業無限遠半複消色差明暗場金相物鏡5x、10x、20x、50x、(選配100x） 5X物鏡NA0.15,WD14.35mm 10X物鏡NA0.30,WD8.5mm 20X物鏡NA0.45,WD3mm 50X物鏡NA0.75,WD3.0mm 100X物鏡NA0.90,WD1 / 長工100X物鏡NA0.80,WD3.0(選配)
4. 物鏡轉換器 5孔明暗場手動物鏡轉換器（帶DIC插槽）
5. 機架 透反兩用機架，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程27mm，微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。帶平臺位置上下調節機構，最大樣品高度40mm
6. 載物台 3X2雙層機械移動平臺，低手位X、Y方向同軸調節；平臺面積210X175mm，工作臺面：135X125mm，玻璃檯面：101X101mm，移動範圍：75mmX52mm可配反射用金屬載物台板，透反兩用玻璃載物台板
右手位4英寸機械平臺，移動行程：105mmX102mm機械平臺，X、Y方向同軸調節；可帶透射系統擋光板，帶玻璃載物台板(選配)
7. 上照明系統 自我調整寬電壓，反射燈室，單顆大功率10WLED，暖色，柯拉照明，帶視場光闌與孔徑光闌，中心可調。
8. 下照明系統 自我調整寬電壓，透射燈室，單顆大功率10WLED，暖色
9. 聚光鏡 透射用消色差聚光鏡(N.A0.9)，帶可變孔徑光闌，中心可調 其他選購附件 攝影攝像附件：、0.5X C介面，可調焦；(1X、0.65X選配) 4K高清成像系統、USB3.0電腦版成像系統相機 高精度測微尺，格值0.01mm 軟體（專業測量系統、金相分析系統、

產品說明
物鏡種類 ( U-Type 金相物鏡模組 / T-Type 單鏡頭模組 )
MM-400 是創新設計的量測型顯微鏡，專為工業測量和圖像分析而設計。於載物台 X、Y 軸安裝精密光學尺，藉由載物台位移，光學尺與讀取頭即可讀取出相對位移的距離，提供跨視野量測的限制，在科技產業不斷日新月異，更高階、更微小化的線路或精密製程中更是不
可或缺的量測設備，MM-400 更提供了量測 Z 軸需求的相對機型，以滿足各行業不同需求的各項量測數據。

U-Type ( NIKON 金相物鏡模組)
新款測量顯微鏡可以搭配一個 TTL 雷射 AF 以或另一新型輔助對焦結構 ，以提供更清晰和更精確的對焦模式，使 Z 軸更簡便提升高精度量測，搭配 NIKON 金相光學模組的放大倍率，更可以利用高倍率觀察，實現明暗視野、偏光、微分干涉的多種觀察方式組合。並利用高倍率物鏡景深短的特性，可計算出部件高低差異的量測數值。

載台為:8×6 B Stage ( 200 x 150 mm ) 量測行程。
亦可搭配台製載物

產品優勢
★ 業界最優異的量測顯微鏡。
★ 優異且清晰的光學成像，穩定可靠的載物台精度。
★ 非接觸式 Z 的高度量測。
★ 各種照明方式及設備，因應各種工件的變化性。
★ 支援更大量測行程的載物台 ( For MM-800 系列 )。
★ 搭配工具顯微鏡專用量測軟體可輕鬆完成各項量測工作，提升工作效率。
產品說明
物鏡種類 ( U-Type 金相物鏡模組 / T-Type 單鏡頭模組 )
MM-400 是創新設計的量測型顯微鏡，專為工業測量和圖像分析而設計。於載物台 X、Y 軸安裝精密光學尺，藉由載物台位移，光學尺與讀取頭即可讀取出相對位移的距離，提供跨視野量測的限制，在科技產業不斷日新月異，更高階、更微小化的線路或精密製程中更是不可或缺的量測設備，MM-400 更提供了量測 Z 軸需求的相對機型，以滿足各行業不同需求的各項量測數據。
U-Type ( NIKON 金相物鏡模組)
新款測量顯微鏡可以搭配一個 TTL 雷射 AF 以或另一新型輔助對焦結構 ，以提供更清晰和更精確的對焦模式，使 Z 軸更簡便提升高精度量測，搭配 NIKON 金相光學模組的放大倍率，更可以利用高倍率觀察，實現明暗視野、偏光、微分干涉的多種觀察方式組合。並利用高倍率物鏡景深短的特性，可計算出部件高低差異的量測數值。

NIKON LV-150,NIKON LV150NL,LV150NA 金相顯微鏡
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。


運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象

NIKON LV100ND NIKON LV100DAU金相顯微鏡
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。


運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象

OLYMPUS 金相顯微鏡
BX51/BX51M,BX53/BX53M,MX51,BX41M-LED
E X C E L L E N T O P T I C S
新一代UIS2光学系统，采用波前像差控制技术确保了
世界最高等级的成像。
完美灵活的显微镜性能，
确保多种检验观察法的卓越成效
BX2M*/MX51是唯一具备载物台在XY方向上的移动距离从50mm到150mm功能的显微镜组。
突出的UIS2无限远校正光学系统特性。
为所有检验观察法需求提供出色的图像清晰度和极高的对比度。
便于组装丰富多彩的附件，确保极其灵活的系统多用性
布局合理适于超群的操作。
推出与镜臂合为一体的反射光照明装置。

一，XE-08 機台 商品說明:
1. 機械平台: FOR 8吋平台，移動行程 203 *203(mm)
2. 光學系統 : 三眼式觀察頭(明視野,偏光觀察) 瞳孔距離範圍55-75mm。
3. 目鏡 : WF10/22超高眼點目鏡。
4. 物鏡 : 明視野半複消色差金相物鏡
M Plan 5XB NA 0.12 WD 26mm
M Plan 10XB NA0.25 WD 20mm
M Plan 20XB NA0.40 WD 8.5mm
M Plan 50XB NA0.0.7 WD 3.6mm
5. 鼻輪 : 明視野手動鼻輪。
6. 調焦裝置 同軸粗細微調,精度0.002mm (附限位裝置)。
7. 表面光,底部光LED 。

型號: XE-023金相顯微鏡
鏡筒: 三眼式觀察頭
目鏡: 超廣角高眼點 WF 10x/22
物鏡:
MPLAN 5x NA=0.12 WD: 26.1mm
MPLAN 10x NA=0.25 WD: 20.2mm
MPLAN 20x NA=0.40 WD: 8.8mm
MPL AN50x NA=0.70 WD: 3.68mm
綜合倍率: 50x~500x
選購配件:
目鏡可加裝十字刻度尺(格值0.1mm)，
WF15x目鏡、WF20x目鏡
MPLAN 100x NA=0.85 WD: 0.4mm
光源: LED燈
電源: 110V~220V
移動行程: 75mm/50mm
檯面尺寸: 210mm/140mm
特色說明:
專用於高倍金屬表面結構組織之分析，折疊式雙眼鏡筒，可調整瞳孔距離。
五孔鼻輪、對焦(具微調對焦功能)

輔助對焦系統,對焦符號 安裝於高倍顯微鏡，透過半月形符號去輔助對焦，讓Z軸量測精度2um以內

可以安裝在
O lympus N i kon Z e iss L e ica 等系列所有款式正立顯微鏡
用途
常規用途：
DAPI 、 FITC 、 TsRED 螢光檢測
光源類型：紫外光 UV 波段、藍光 B 波段、綠光 G 波段
通道
: 單光源 , 雙光源 , 三光源
特色
反射光照明系統