NIKON 金相顯微鏡
NIKON LV100ND,NIKON LV100DAU金相顯微鏡
NIKON LV100ND,NIKON LV100DAU金相顯微鏡
NIKON LV100ND NIKON LV100DAU金相顯微鏡
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。
運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。
運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象
詳細介紹
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。
運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象