NIKON 金相顯微鏡

產品說明
物鏡種類 ( U-Type 金相物鏡模組 / T-Type 單鏡頭模組 )
MM-400 是創新設計的量測型顯微鏡，專為工業測量和圖像分析而設計。於載物台 X、Y 軸安裝精密光學尺，藉由載物台位移，光學尺與讀取頭即可讀取出相對位移的距離，提供跨視野量測的限制，在科技產業不斷日新月異，更高階、更微小化的線路或精密製程中更是不
可或缺的量測設備，MM-400 更提供了量測 Z 軸需求的相對機型，以滿足各行業不同需求的各項量測數據。

U-Type ( NIKON 金相物鏡模組)
新款測量顯微鏡可以搭配一個 TTL 雷射 AF 以或另一新型輔助對焦結構 ，以提供更清晰和更精確的對焦模式，使 Z 軸更簡便提升高精度量測，搭配 NIKON 金相光學模組的放大倍率，更可以利用高倍率觀察，實現明暗視野、偏光、微分干涉的多種觀察方式組合。並利用高倍率物鏡景深短的特性，可計算出部件高低差異的量測數值。

載台為:8×6 B Stage ( 200 x 150 mm ) 量測行程。
亦可搭配台製載物

產品優勢
★ 業界最優異的量測顯微鏡。
★ 優異且清晰的光學成像，穩定可靠的載物台精度。
★ 非接觸式 Z 的高度量測。
★ 各種照明方式及設備，因應各種工件的變化性。
★ 支援更大量測行程的載物台 ( For MM-800 系列 )。
★ 搭配工具顯微鏡專用量測軟體可輕鬆完成各項量測工作，提升工作效率。
產品說明
物鏡種類 ( U-Type 金相物鏡模組 / T-Type 單鏡頭模組 )
MM-400 是創新設計的量測型顯微鏡，專為工業測量和圖像分析而設計。於載物台 X、Y 軸安裝精密光學尺，藉由載物台位移，光學尺與讀取頭即可讀取出相對位移的距離，提供跨視野量測的限制，在科技產業不斷日新月異，更高階、更微小化的線路或精密製程中更是不可或缺的量測設備，MM-400 更提供了量測 Z 軸需求的相對機型，以滿足各行業不同需求的各項量測數據。
U-Type ( NIKON 金相物鏡模組)
新款測量顯微鏡可以搭配一個 TTL 雷射 AF 以或另一新型輔助對焦結構 ，以提供更清晰和更精確的對焦模式，使 Z 軸更簡便提升高精度量測，搭配 NIKON 金相光學模組的放大倍率，更可以利用高倍率觀察，實現明暗視野、偏光、微分干涉的多種觀察方式組合。並利用高倍率物鏡景深短的特性，可計算出部件高低差異的量測數值。

NIKON LV-150,NIKON LV150NL,LV150NA 金相顯微鏡
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。


運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象

NIKON LV100ND NIKON LV100DAU金相顯微鏡
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。


運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象