NIKON 金相顯微鏡
NIKON MM400工具顯微鏡
NIKON MM400工具顯微鏡
產品說明
物鏡種類 ( U-Type 金相物鏡模組 / T-Type 單鏡頭模組 )
MM-400 是創新設計的量測型顯微鏡，專為工業測量和圖像分析而設計。於載物台 X、Y 軸安裝精密光學尺，藉由載物台位移，光學尺與讀取頭即可讀取出相對位移的距離，提供跨視野量測的限制，在科技產業不斷日新月異，更高階、更微小化的線路或精密製程中更是不
可或缺的量測設備，MM-400 更提供了量測 Z 軸需求的相對機型，以滿足各行業不同需求的各項量測數據。
U-Type ( NIKON 金相物鏡模組)
新款測量顯微鏡可以搭配一個 TTL 雷射 AF 以或另一新型輔助對焦結構 ，以提供更清晰和更精確的對焦模式，使 Z 軸更簡便提升高精度量測，搭配 NIKON 金相光學模組的放大倍率，更可以利用高倍率觀察，實現明暗視野、偏光、微分干涉的多種觀察方式組合。並利用高倍率物鏡景深短的特性，可計算出部件高低差異的量測數值。
載台為:8×6 B Stage ( 200 x 150 mm ) 量測行程。
亦可搭配台製載物
物鏡種類 ( U-Type 金相物鏡模組 / T-Type 單鏡頭模組 )
MM-400 是創新設計的量測型顯微鏡，專為工業測量和圖像分析而設計。於載物台 X、Y 軸安裝精密光學尺，藉由載物台位移，光學尺與讀取頭即可讀取出相對位移的距離，提供跨視野量測的限制，在科技產業不斷日新月異，更高階、更微小化的線路或精密製程中更是不
可或缺的量測設備，MM-400 更提供了量測 Z 軸需求的相對機型，以滿足各行業不同需求的各項量測數據。
U-Type ( NIKON 金相物鏡模組)
新款測量顯微鏡可以搭配一個 TTL 雷射 AF 以或另一新型輔助對焦結構 ，以提供更清晰和更精確的對焦模式，使 Z 軸更簡便提升高精度量測，搭配 NIKON 金相光學模組的放大倍率，更可以利用高倍率觀察，實現明暗視野、偏光、微分干涉的多種觀察方式組合。並利用高倍率物鏡景深短的特性，可計算出部件高低差異的量測數值。
載台為:8×6 B Stage ( 200 x 150 mm ) 量測行程。
亦可搭配台製載物
詳細介紹
物鏡種類 ( U-Type 金相物鏡模組 / T-Type 單鏡頭模組 )
MM-400 是創新設計的量測型顯微鏡，專為工業測量和圖像分析而設計。於載物台 X、Y 軸安裝精密光學尺，藉由載物台位移，光學尺與讀取頭即可讀取出相對位移的距離，提供跨視野量測的限制，在科技產業不斷日新月異，更高階、更微小化的線路或精密製程中更是不
可或缺的量測設備，MM-400 更提供了量測 Z 軸需求的相對機型，以滿足各行業不同需求的各項量測數據。
U-Type ( NIKON 金相物鏡模組)
新款測量顯微鏡可以搭配一個 TTL 雷射 AF 以或另一新型輔助對焦結構 ，以提供更清晰和更精確的對焦模式，使 Z 軸更簡便提升高精度量測，搭配 NIKON 金相光學模組的放大倍率，更可以利用高倍率觀察，實現明暗視野、偏光、微分干涉的多種觀察方式組合。並利用高倍率物鏡景深短的特性，可計算出部件高低差異的量測數值。
光學:
採用 NIKON 獨特的 CFI60-2 光學系統設計，可以同時保證較長的工作距離 ( W.D. ) 和較高的數值孔徑 ( N.A. ) 和最先進的色彩表現；光學物鏡採用不含鉛、砷等有害物質的環保材料製成，本體可選配反射照明和透射照明兩類型，以滿足各種工業領域的觀察、研究及分析的各種需求。
NIKON CFI60-2 新一代光學系統延續 CFI-60 優異的光學，在 5X、10X、20X 暗視野 ( Brightfield )物鏡中，採用獨特的複眼透鏡設計( Fly-eye lens )，於暗視野觀察中，可以充分獲得最均勻且明亮的光學效果觀察領域之擴大：明、暗視野，簡易偏光，微分干涉 DIC，並可擴充螢光觀察功能。
● 可加裝高解析彩色數位攝影機、藉由軟體執行影像拼接、景深擴展及相關數據e化資料庫等功能，符合工業 4.0大數據分析之導向。
載台為:8×6 B Stage ( 200 x 150 mm ) 量測行程。
亦可搭配台製載物台