Probe Card 檢查儀
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Probe Card 檢查儀, AIXON G 43+NIKONProbe Card 檢查儀, AIXON G 43+NIKON
型 號 AIXON Vision G43+NIKON
量測範圍X軸:400mm、Y軸:300mm、Z軸:150mm
機構設計 C型
00級花崗岩基座 (非鋁合金or鑄鐵床台)
基礎平台 採用日本NB無牙螺桿,可快速移動機
機構材質 依結構及應用之考量,採鋁合金及鐵材加工製作,表面均經陽極、染黑,鐵材均為鍍硬鉻處理。
鈑金封蓋均施以高溫粉體烤漆,確保表面硬度。外部固定螺絲均為不鏽鋼材質。
三軸軌道 採日本原裝NB系列線性滑軌模組與交叉滾子導軌
傳動方式 採日本原裝NB 系列精密滾珠螺桿傳動。
光 學 尺 英國RENISHAW光學尺。解析度為 0.0001mm (0.1 um )。
量測精度 3+L/200 (um)。
定位精度 0.0001mm (0.1 um)。
載台平面度 10um
避震方式 底部鋼架另加裝四組水平調整防震腳座,防低頻震動傳導
外觀尺寸 G43- 1000X1000X1600mm(L x W x H)。
電力系統 100~240 V
品牌 NIKON CFI60
三眼頭 正向三眼頭
目鏡 10X Eyepiece (內建十字刻劃片)
鼻輪 手動/電動
物鏡
(WD)mm
TU Plan Epi 5X 23.5(mm)
TU Plan Epi 10X 17.5(mm)
TU Plan Epi SLWD 20X 30(mm)
TU Plan Epi ELWD 50X 11(mm) -
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Probe Card 檢查儀, AIXON G 6 4 +NIKONProbe Card 檢查儀, AIXON G 6 4 +NIKON
型 號 AIXON Vision G64+NIKON
量測範圍 X軸:600mm、Y軸:400mm、Z軸:150mm
00級花崗岩移動平台 (非鋁合金or鑄鐵床台)
基礎平台 採用日本NB無牙螺桿,可快速移動機
機構材質 依結構及應用之考量,採鋁合金及鐵材加工製作,表面均經陽極、染黑,鐵材均為鍍硬鉻處理。
鈑金封蓋均施以高溫粉體烤漆,確保表面硬度。外部固定螺絲均為不鏽鋼材質。
三軸軌道 採日本原裝NB系列線性滑軌模組與交叉滾子導軌
傳動方式 採日本原裝NB 系列精密滾珠螺桿傳動。
光 學 尺 英國RENISHAW光學尺。解析度為 0.0001mm (0.1 um )。
量測精度 3+L/200 (um)。
定位精度 0.0001mm (0.1 um)。
載台平面度 10um
避震方式 底部鋼架另加裝四組水平調整防震腳座,防低頻震動傳導
外觀尺寸 G64- 1100X1200X1600mm(L x W x H)。
電力系統 100~240 V
品牌 NIKON CFI60
三眼頭 正向三眼頭
目鏡 10X Eyepiece (內建十字刻劃片)
鼻輪 手動/電動
物鏡
(WD)mm
TU Plan Epi 5X 23.5(mm)
TU Plan Epi 10X 17.5(mm)
TU Plan Epi SLWD 20X 30(mm)
TU Plan Epi ELWD 50X 11(mm) -
MOREProbe Card 檢查儀 T64+ST0850 龍門 高解析 檢測系統
Probe Card 檢查儀 T64+ST0850 龍門 高解析 檢測系統
1. 機構規格:
600x400x150mm行程
Hiwin精密級線性滑軌
鋁合金硬陽基座平台
X/Y軸快速移動設計
Z軸可拆式設計
2. 光學規格:NIKON SMZ745 或SZ45
無段鏡頭 : 0.65X~5.0X 或0.67X~4.5X段連續變焦
廣角目鏡 : 10X (6.5X~50X)或(6.7X~45X)
觀察鏡筒 : 45˚傾斜度
工作距離 : 115mm或100mm
高亮度60顆LED環狀光源組