Probe Card 檢查儀 T64+ST0850 龍門高解析檢測系統

Probe Card 檢查儀

1. 機構規格：
 600x400x150mm行程
 Hiwin精密級線性滑軌
 鋁合金硬陽基座平台
 X/Y軸快速移動設計
 Z軸可拆式設計
2. 光學規格：NIKON SMZ745 或SZ45
 無段鏡頭 : 0.65X~5.0X 或0.67X~4.5X段連續變焦
 廣角目鏡 : 10X (6.5X~50X)或(6.7X~45X)
 觀察鏡筒 : 45˚傾斜度
 工作距離 : 115mm或100mm
 高亮度60顆LED環狀光源組

詳細介紹

T64+ST0850 龍門高解析檢測系統

機構規格：

 600x400x150mm行程
 Hiwin精密級線性滑軌
 鋁合金硬陽基座平台
 X/Y軸快速移動設計
 Z軸可拆式設計

光學規格：NIKON SMZ745 或SZ45

 無段鏡頭 : 0.65X~5.0X 或0.67X~4.5X段連續變焦
 廣角目鏡 : 10X (6.5X~50X)或(6.7X~45X)
 觀察鏡筒 : 45˚傾斜度
 工作距離 : 115mm或100mm
 高亮度60顆LED環狀光源組

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Probe Card 檢查儀 T64+ST0850 龍門 高解析 檢測系統